透射电子显微镜
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49/人使用者
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218/次总次数
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411/小时总时长
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13/人收藏者
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收费标准
机时400元/小时 -
设备型号
Talos F200X G2 -
当前状态
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管理员
闫志刚 -
放置地点
坪山校区（校本部）B4栋1层G103
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
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名称
透射电子显微镜
资产编号
S2005147
型号
Talos F200X G2
规格
产地
厂家
Thermoscientific
所属品牌
出产日期
购买日期
2020-05-18
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
闫志刚
联系电话
联系邮箱
放置地点
坪山校区（校本部）B4栋1层G103
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
性能指标：
加速电压：200kV
电子束电流：1nm电子束 (200kV) 时为1.5nA
TEM 线分辨率：0.10nm
STEM分辨率：0.16nm
EDS立体角：0.9srad
EDS能量分辨率：≤ 136eV (Mn-Kα和10kcps)
快速EDS测绘像素驻留时间短至10μs
洛伦兹点分辨率：2.5~5 nm
加速电压：200kV
电子束电流：1nm电子束 (200kV) 时为1.5nA
TEM 线分辨率：0.10nm
STEM分辨率：0.16nm
EDS立体角：0.9srad
EDS能量分辨率：≤ 136eV (Mn-Kα和10kcps)
快速EDS测绘像素驻留时间短至10μs
洛伦兹点分辨率：2.5~5 nm
主要功能及特色
功能范围：
形貌分析：可获得非晶材料的质厚衬度像、多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像（原子像）
结构分析：可进行电子衍射、原子位错、孪晶类型、晶界结构等研究
成分分析：可对小到纳米尺度的微区或晶粒进行成分分析
主要应用领域：
纳米表征
金属及合金、氧化/腐蚀、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料
陶瓷、复合材料、塑料
薄膜/涂层地质样品断面、矿物
软物质：聚合物、药品、过滤膜、凝胶、生物组织、木材
形貌分析：可获得非晶材料的质厚衬度像、多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像（原子像）
结构分析：可进行电子衍射、原子位错、孪晶类型、晶界结构等研究
成分分析：可对小到纳米尺度的微区或晶粒进行成分分析
主要应用领域：
纳米表征
金属及合金、氧化/腐蚀、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料
陶瓷、复合材料、塑料
薄膜/涂层地质样品断面、矿物
软物质：聚合物、药品、过滤膜、凝胶、生物组织、木材
设备使用相关说明
计费说明：校外800元/小时，校内400元/小时
备注
00230
预约资源
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公告
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